高低溫循環測試系統在芯片研發測試中的應用介紹

　　芯片市場的發展與芯片的性能息息相關，芯片在研發過程中要經歷各種測試，那么，高低溫循環測試系統在芯片測試中有怎么樣的應用呢？

　　一、芯片行業測試的必要性

　　芯片的質量主要取決于市場、性能和可靠性因素。在芯片開發的早期階段，需要對市場進行充分的研究，以定義滿足客戶需求的規格；其次是性能，IC設計工程師設計的電路需要通過設計模擬、電路驗證、實驗室樣品評估和FT，認為性能滿足早期定義的要求；然后是可靠性，因為測試芯片只能確保客戶某一次得到樣品，所以需要進行一系列的應力測試，模擬一些嚴格的使用條件對芯片的影響，以評估芯片的壽命和可能的質量風險。

　　大多數半導體器件的壽命在正常使用下可超過很多年。但我們不能等到若干年后再研究器件；我們增加施加的應力。施加的應力可增強或加快潛在的故障機制，幫助找出根本原因，并幫助采取措施防止故障模式。

　　二、芯片行業常見的測試以及實驗

　　1、加速測試：在半導體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額"。高加速測試是基于資質認證測試的部分。

　　2、溫度循環：根據標準，溫度循環讓部件經受苛刻高溫和低溫之間的轉換。進行該測試時，將部件反復暴露于這些條件下經過預定的循環次數。

　　3、高溫工作壽命：用于確定高溫工作條件下的器件可靠性。該測試通常根據標準長時間進行。

　　4、溫濕度偏壓高加速應力測試：根據標準，器件經受高溫高濕條件，同時處于偏壓之下，其目標是讓器件加速腐蝕。

　　5、熱壓器/無偏壓：熱壓器和無偏壓用于確定高溫高濕條件下的器件可靠性。它用于加速腐蝕。不過，與這些測試不同，不會對部件施加偏壓。

　　6、高溫貯存：用于確定器件在高溫下的長期可靠性，器件在測試期間不處于運行條件下。

　　7、靜電放電：靜電荷是靜置時的非平衡電荷。通常情況下，它是由絕緣體表面相互摩擦或分離產生；一個表面獲得電子，而另一個表面失去電子。其結果是稱為靜電荷的不平衡的電氣狀況。

　　當靜電荷從一個表面移到另一個表面時，它便成為靜電放電 ，并以微型閃電的形式在兩個表面之間移動。當靜電荷移動時，就形成了電流，因此可以損害或破壞氧化層、金屬層和結。

　　三、芯片高低溫循環測試系統

高低溫循環測試系統：適用于芯片、微電子器件、集成電路、光通訊（如：收發器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）等特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。